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News information上海,2025年3月26日 —— 全球電子制造行業矚目的2025慕尼黑上海電子生產設備展(Productronica China)于今日在上海新國際博覽中心盛大開幕。HIOKI日置作為電氣測量領域的領跑者,攜最新技術成果與創新解決方案隆重亮相展會(展位號:E5-5111),與來自全球的專家們共探電子智造未來趨勢。
展臺亮點:以測量技術為紐帶,賦能智能制造新生態
在萬象更新的新時代浪潮中
現有的測量技術能否緊跟時代步伐
充分滿足多元且嚴苛的需求?
【課題①】
隨著人工智能(AI)時代的來臨,對半導體的需求越來越大。半導體本身也在朝著與之相適應的高速、高功能、高密度的方向發展,玻璃基板、2.5D/3D封裝等新技術正發生著巨大的變化。應對NEXT時代的半導體,傳統的測量方式能有效應對嗎?
【課題②】
隨著半導體材料和制造工藝的不斷發展,例如碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等先進器件的出現,帶來了更高的開關頻率,這使得減少高頻范圍內的功率損耗成為一項研發挑戰。
HIOKI日置給出的答案
我們以測量為尺,以創新為脈,為AI等高密度半導體、碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等先進器件的測量提供及時、可靠的創新應答。”
HIOKI日置針對AI時代所研發的飛針測試機 FA1815-20,支持TSV, 玻璃基板和RDL的檢測,實現了最快100 points/sec 的高速檢測,探針定位精度高,在10V電壓下可測試高達100 GΩ的絕緣電阻。它縮短了以探針卡為代表的高精度基板的檢測時間,并通過消除潛在缺陷實現了高質量,從而為提高半導體行業的生產率做出了貢獻。
對使用SiC或GaN的功率調節器進行評估時,為了能準確掌握高速開關產生的功率變化,采樣性能和抗干擾性非常重要。日置功率分析儀系列中的旗艦版“PW8001”, 其高采樣性能(18-bit,15 MHz)和抗干擾性(CMRR 110 dB / 100 kHz),可準確捕捉高速開關波形,把握高速開關產生的功率變化。
可穩定測量高達 3GHz 的阻抗,覆蓋大范圍測量頻率。降低偏差實現高穩定性測量。廣泛應用于電子元件的研發到生產線各領域。
最短 0.5ms的高速測量,能夠快速檢查大量電子元件;主機尺寸小巧、輕便,可通過同時安裝多臺來縮短檢查時間,提高生產效率;等效電路分析功能下,可以通過模擬功能,使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值使用比較器功能,還能夠確定測量結果是否在判定區域內。
測量部分實現了寬量程范圍的阻抗測試和最小偏差的測量,并能消除各回路中的干擾,減少誤差實現高速運算處理。此外,采用了貼合基板和IC形狀的固態屏蔽層,降低了內部的交互耦合現象,還降低了對外部的輻射影響,提高了抗干擾性能,在機身做到最輕量級別的同時也滿足EMC 的高標準。
觀眾互動:前沿科技與行業共鳴
HIOKI日置,從晶圓測試→封裝(IC)測試→PCB基板測試→元器件測試,將電子/半導體制造全流程中的測試方案帶到了現場,通過沉浸式互動演示與實物案例展示,吸引了大量專業觀眾駐足。不少觀眾表示,HIOKK日置的解決方案直擊行業痛點,為電子制造升級提供了清晰路徑。
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90周年慶活動:打卡有禮,熱鬧非凡
2025年,是HIOKI日置創立90周年,我們在現場特別準備了周年慶限定打卡季活動,凡是來到HIOKI日置展臺E5-5111,通過掃描活動二維碼提交,即可完成1次打卡!
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展望未來:持續深耕電子智造
慕尼黑上海電子生產設備展是亞洲電子制造行業的頂級平臺。我們期待通過這一窗口,與全球伙伴協同創新,共探電子智造未來趨勢,推動測試測量、電子材料等前沿領域的發展!用測量連接未來,構建產業轉型升級的精準底座。