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微歐計和DMM的測量值差異較大。
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正在使用微歐計RM3544。測量100Ω左右的金屬時，和使用手持DMM測出的數值差異較大。導致這個差異的原因是什么？ A.
一般手持DMM的電阻測量是使用2端子測量法，會出現配線電阻和接觸電阻的影響。
針對這點，像低電阻計（微歐計）RM3544這類專業儀器使用的是4端子測試方法，可以進行不受接觸電阻和配線電阻影響的高精度的電阻測量。
